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行業(yè)產(chǎn)品
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當前位置:上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>產(chǎn)品展示
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量
哈氏槽黃銅片,陽塊,鎳陽,波紋吸盤,哈氏槽,磷銅陽,純錫陽,整流器,哈氏片
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAMM6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品,還可以分析垂直放置的樣品。
直讀光譜儀Q8MAGELLAN 是一款具備技術(shù)、靈活性和操作便利性的火花直讀光譜儀。它是一款采用通道光電倍增管技術(shù)、數(shù)字等離子發(fā)生器、單火花和時間分辨率并配有免...
反射膜厚儀MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導(dǎo)體(硅,單晶硅...
涂層測厚儀SURFIX®X系列這款新型PHYNIX儀器其性能在于精美的彩色顯示屏,更好的內(nèi)容顯示,并包含多種語言。目前的版本含有英語,德語,法語,意大...
晶圓厚度測量系統(tǒng)非接觸式厚度測量,可以測量背面研磨減薄和刻蝕后的晶圓,也可測量粘附在藍膜或者其他載體上的有圖形或凸起的晶圓,可應(yīng)用于堆疊芯片和微機電系統(tǒng)。
納米力學(xué)測試系統(tǒng)布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度?;诤K紕?chuàng)幾十年的技術(shù),他為納米力學(xué)表征帶...
摩擦磨損儀布魯克UMT摩擦磨損儀由于其良好的兼容新和多模塊化設(shè)計得到了市場。良好的設(shè)備兼容性設(shè)計理念,可以使一個樣品在同一個實驗設(shè)備上實現(xiàn)多種性能表征,大大節(jié)省...
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR數(shù)十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值低于PPb ...
貴金屬檢測采用了具有布魯克SharpBeam™優(yōu)化檢測器,S1TITAN運行時功率很低,從而大大使電池壽命增加。S1TITAN較寬的元素范圍使它適合...
顯微反射膜厚儀MProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多...
涂層測厚儀PHYNIX涂層測厚儀也被用于許多研究機構(gòu)和實驗室,例如為了開發(fā)新的涂層和鍍膜方法。是眾多對我們設(shè)備的測量精度充滿信心的原因所在。
便捷式光伏檢測儀英國seaward PV150 太陽能安裝檢測儀為光伏安裝提供、簡單的電氣和光伏安裝性能確認。
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備 FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體,三-五族...
金屬回收檢測儀手持式X射線熒光光譜儀(俗稱手持金屬成份分析儀)是金屬回收、再利用中的常用設(shè)備。布魯克手持光譜儀采用了現(xiàn)代SDD(硅漂移探測器)技術(shù),與傳統(tǒng)的基于...
大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀,依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497,對材料成分和多層涂層厚度進行無...
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備 FSM推出基于商業(yè)化應(yīng)用的激光掃描光學(xué)杠桿(Optilever)技術(shù),主要應(yīng)用于薄膜應(yīng)力和晶圓彎曲測量。該設(shè)備頻繁使用在分析解決諸如...
原子力顯微鏡Dimension FastScanDimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)在不損失Dimension®Icon®...
顯微反射膜厚儀MProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多...
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