18930218592
原子力顯微鏡高分辨率成像和定量的材料性能成像.提供多模塊功能的MultiMode
Hysitron 納米力學測試系統(tǒng)布魯克專門設計的Hysitron TI Premier 納米力學測試儀器在緊湊平臺中提供了業(yè)界的、定量納米力學表征技術。以被廣...
手持土壤重金屬分析儀實現(xiàn)了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等有害...
混凝土成分分析M4 TORNADO德國布魯克微區(qū)X射線熒光光譜Micro-XRF分析技術是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性...
電子順磁共振波譜儀電子順磁共振波譜儀（EPR）ESR5000是一種緊湊型高性能儀器，其靈敏度和可靠性足可勝任EPR波譜領域的苛刻應用。ESR5000EPR（電子...
掃描儀Itrax XRF FleXRayItrax XRF FleXRay是一款靈活的非接觸式，無損巖芯掃描儀，可以用于掃描鉆孔巖芯、全巖和分散巖芯、板狀、線性...
薄膜應力及基底翹曲測試設備產品品牌：Frontier Semiconductor產品型號：薄膜應力和硅片翹曲檢測儀產品描述：光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。
掃描探針顯微鏡同類AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）
多基體火花直讀光譜儀Q4 POLO
紅外干涉測量設備適用于可讓紅外線通過的材料硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石英、聚合物…………襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)平...
便攜式涂層測厚儀PaintCheck能測量涂層的厚度，也能提供有關涂層結構的有價值信息，例如，頂部涂層或子填料。如果所測量的厚度超過標準涂層，該儀器會識別出維修...
移動式微區(qū)X射線熒光光譜儀CRONO移動式微區(qū)X射線熒光光譜儀是一款可移動且可重新配置的快速檢測的微型XRF掃描儀?；贓DXRF技術，可對大型樣品進行原位，非...
便攜式微區(qū)X射線熒光光譜儀微區(qū)X射線熒光光譜儀作為一款元素分析設備，具有無損、快速、分析元素范圍廣、精度高、制樣簡單、樣品狀態(tài)不受限制等優(yōu)異性，在物質組成和結構...
三維表面測量系統(tǒng)布魯克NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題...
全自動紫外線芯片應力測量儀全自動紫外線芯片應力測量儀一臺全自動紫外線——可見光RAMan儀器，主要用與測量芯片應力。
直讀光譜儀用于金屬材料分析的全譜直讀光譜儀它具備良好分析性能、使用方便，是一種基于 CCD 檢測器的金屬材料分析全譜直讀光譜儀。
光學輪廓儀系統(tǒng)?光學輪廓儀系統(tǒng)適用于科研和生產的高質量表面測量手段ContourGT-I3D光學顯微鏡將三十多年表面測量經驗和技術融合到單一平臺上，實現(xiàn)調整校準...
輕便型直讀光譜儀Q2 IONBruker設計的直讀光譜儀Q2 ION是現(xiàn)今市場上輕便的直讀光譜儀。Q2可同時配備多種基體例如鐵、鋁和銅, 能夠很好地中小鑄造企業(yè)...
藝術與考古分析儀TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發(fā)布的科研型手持式XRF設備，也稱便攜式XRF。是繼原有Tracer家族系列后, Bruker...
反射膜厚儀采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?
