目錄:北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司>>實驗檢測儀器>>精密影像測量儀>> PZ-5040H高精度影像測量儀精度高
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),印刷包裝,紡織皮革 |
高精度影像測量儀精度高結(jié)構(gòu)美觀大方，操作簡便，結(jié)合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準(zhǔn)確的工件測量。
廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造、電子、汽車、五金、塑料、模具等行業(yè)，可以對工件尺寸、形狀和位置公差進(jìn)行精密檢測，從而完成零件檢測、外形測量、過程控制等任務(wù)。
高精度影像測量儀精度高產(chǎn)品特點
具有快速對焦、自動尋邊、強(qiáng)大的編程和自動測量功能
采用亞像素細(xì)分技術(shù)，提高圖像邊界分辨能力
操縱桿/鼠標(biāo)操作，方便易用
程控恒流驅(qū)動式八區(qū)表面冷光源，可適應(yīng)復(fù)雜的工件測量
激光指示器指示測量位置，方便快速定位
在線SPC數(shù)據(jù)處理分析，大批量治具測量功能
三軸伺服控制，定位精度高速度快，XY速度可達(dá)200mm/s，運(yùn)行平穩(wěn)
嵌入式模塊控制系統(tǒng)，將復(fù)雜的控制系統(tǒng)集成在儀器內(nèi)部，穩(wěn)定性更高
采用花崗石底座，性能穩(wěn)定，不易變形
選配MCP簡易測頭，可做簡單三維測量
選配自動變倍可實現(xiàn)多倍率下高效測量
技術(shù)參數(shù)：
儀器型號 | PZ-5040H | ||
工作臺 | 玻璃臺尺寸（mm） | 560*460 | |
運(yùn)動行程（mm） | 500*400 | ||
儀器重量（kg） | 380 | ||
外形尺寸（mm） | 1100*950*1660 | ||
Z軸升降行程 | 200 mm | ||
X、Y、Z數(shù)顯分辨力 | 0.5μm | ||
工作距離 | 92 mm | ||
X、Y坐標(biāo)示值誤差 | (2.5+L/100) μm (L為被測長度，單位：mm) | ||
影 像 系 統(tǒng) | 攝像機(jī) | 1/2”彩色CCD | |
變倍鏡頭倍率 | 0.7X—4.5X | ||
物方視場 | 11.1mm～1.7mm | ||
視頻倍率 | 20~128X | ||
光源系統(tǒng) | 表面光源與透射光源均用LED，亮度可調(diào) | ||
| 配置單：
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序 號 | 名 稱 | 規(guī)格品牌 | 數(shù) 量 | 單位 | 備 注 |
1 | 主機(jī) | 工作臺采用00級天然大理石 | 1 | 套 | 含光學(xué)玻璃 |
2 | 電腦 | 聯(lián)想品牌電腦 | 1 | 臺 | 含主機(jī)，顯示器，鍵盤，鼠標(biāo) |
3 | 軟件 | QC1000軟件 | 1 | 套 | 含加密鎖，光盤，說明書 |
4 | 運(yùn)動控制盒 |
| 1 | 套 | 配操縱手柄 |
5 | 光柵尺 | 中國臺灣光學(xué)尺 | 3 | PCS |
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6 | 導(dǎo)軌 | Z軸配高精度直線導(dǎo)軌 | 2 | 付 |
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7 | 絲桿 | 研磨級絲桿 | 3 | PCS |
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8 | 馬達(dá) | 伺服馬達(dá) | 3 | PCS |
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9 | 變倍鏡頭 | 手動變倍鏡頭 | 1 | PCS |
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10 | 攝像機(jī) | 1/2" CCD相機(jī) | 1 | PCS |
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11 | 表面光 | 八區(qū)程控光源 | 1 | PCS |
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12 | 校正片 | 公司定制 | 1 | PCS |
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`13 | 視頻卡 | 公司定制 | 1 | PCS |
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元素測量
能直接測量11種元素（點、直線、圓、圓弧、橢圓、矩形、槽形、環(huán)形、距離、角度、高度）。具有以下特點：
所測元素類型較多。除六種基本幾何元素外，還有組合幾何元素（槽形）和關(guān)聯(lián)幾何元素（距離與角度），以及高度，曲線等。
對用戶感興趣的距離與角度元素，既可作測量元素對待（可通過一次測量直接獲得所需結(jié)果），又可作構(gòu)造元素對待（構(gòu)造方法靈活多樣，構(gòu)造功能極其大），從而增加了求距離和角度的靈活性與方便性。
測量方法多樣（自動尋邊、對比測量、局部放大采點、十字線尋邊測量、鼠標(biāo)采點測量），可以滿足用戶不同需求，大大提高使用的方便性,當(dāng)某種特別的工件用自動尋邊無法完成時,可通過對比測量和局部放大采點測量方式解決.
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