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白光干涉3D形貌測(cè)量儀 參考價(jià)：面議
白光干涉3D形貌測(cè)量儀具有專業(yè)的測(cè)量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場(chǎng)的掃描得到測(cè)量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測(cè)速度與深度量測(cè)能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡...
三維光學(xué)形貌儀 參考價(jià)：面議
三維光學(xué)形貌儀具有3D測(cè)量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場(chǎng)的掃描得到測(cè)量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測(cè)速度與深度量測(cè)能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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