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當前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>物理特性儀器>>測厚儀>> 日本KETT LZ-200J兩用膜厚計
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌KETT/日本
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2024-02-21 09:43:47瀏覽次數(shù)：262次
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
日本KETT LZ-200J兩用膜厚計采用電磁和渦流兩種測量模式，精度達2%，測量1500μm內(nèi)的磁性金屬底材涂層或800μm內(nèi)的非磁性金屬上涂層。
產(chǎn)品簡介：
LZ-200J采用電磁和渦流兩種測量模式，可無損檢測磁性金屬上非磁性覆層厚度及非磁性金屬上絕緣層厚度，內(nèi)置打印機、有統(tǒng)計儲存、連接電腦等功能，對微小厚度的涂鍍層測量有較高的準確度。本產(chǎn)品廣泛用于汽車制造、船舶制造、金屬加工等各領域行業(yè)。
技術參數(shù)：
測定方法：電磁誘導式+渦電流式
測定對象：磁性金屬上的非磁性薄膜及非磁性金屬上的絕緣膜
測量范圍：
電磁式：0～1500μm或60.00 mils
渦流式：0～800μm或32.00 mils
測量精度：
電磁式：<15μm±0.3μm ≥15μm±2%
渦流式：<50μm±1μm ≥50μm±2%
測試面積： 3*3mm
測試單位：公/英制
分辨率： ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm
統(tǒng)計功能： 測試次數(shù)、較大/較小值、平均值、標準偏差
顯示方式：LED數(shù)顯
探針：一點接觸恒壓式(LEP - J，LHP - J)
外部輸出： RS-232C接口(傳送速度2400 bps)
尺寸、質(zhì)量： 120(W)×250(D)×55(H)毫米，1000g
附件： 探頭/基體/校正標準片/電池/V型塊/變壓器/皮套/合格證/說明書
附加功能：內(nèi)置打印功能、儲存統(tǒng)計功能、連接電腦功能(RS232標準接口)
界限設定：可設定上/下限
電源：電源AC 100V(50 / 60Hz)或電池1.5 V(單3堿)
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