絕緣阻抗(IR)測(cè)試是一種定性測(cè)試，提供絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。測(cè)試時(shí)通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行，結(jié)果用兆歐電阻(MΩ)來(lái)度量。
耐壓測(cè)試(Hi-Pot)測(cè)試則是一種定量測(cè)試，同樣也給DUT施加高壓，但所加電壓比絕緣阻抗(IR)測(cè)試的高；而且視不同要求可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果則用毫安(mA)或微安(uA)來(lái)度量。
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