LCR測(cè)試儀的*測(cè)試條件
我們建議的測(cè)試條件如下：
元器件 | 元器件值 | 測(cè)試電路 | 頻率 |
電感 | <10mH | 串聯(lián) | 100kHz |
10 mH~1mH | 串聯(lián) | 10kHz | |
1mH~1H | 串聯(lián) | 1kHz | |
>1H | 串聯(lián) | 0.1kHz | |
電容 | <10pF | 串聯(lián) | 100kHz |
10~400pF | 串聯(lián)/并聯(lián) | 10kHz | |
400~1mF | 串聯(lián) | 1kHz | |
>1mF | 串聯(lián) | 0.1kHZ /0.12kHz | |
電阻 | <1kW | 串聯(lián) | 1kHz |
1kW~10MW | 并聯(lián) | 0.25kHz | |
>10 MW | 并聯(lián) | 0.03kHz |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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