CMOS全譜——全元素分析解決方案

萬(wàn)條譜線(xiàn)，全元素盡可展現(xiàn)

M5000可采集全譜信息，測(cè)量近萬(wàn)條譜線(xiàn)，分析范圍廣，可用的分析靈敏線(xiàn)更多，能夠測(cè)定金屬分析行業(yè)需要分析的元素

與通道式光譜儀相比，M5000免除了選擇通道的煩惱，以更低的成本，獲取對(duì)更多元素的分析檢測(cè)能力

分析準(zhǔn)，產(chǎn)品質(zhì)量可靠

M5000可智能選擇合適的靈敏線(xiàn)進(jìn)行分析，科學(xué)地避開(kāi)相鄰元素干擾、高含量自吸等因素的影響，獲取更準(zhǔn)確的分析結(jié)果

擴(kuò)展性?xún)?yōu)，助力企業(yè)升級(jí)

M5000的硬件設(shè)計(jì)支持全譜分析檢測(cè)，用戶(hù)可隨時(shí)在任意現(xiàn)場(chǎng)增加分析基體和元素，無(wú)需更改硬件便能擴(kuò)展分析范圍

M5000方便實(shí)用的擴(kuò)展性能更優(yōu)地滿(mǎn)足企業(yè)未來(lái)拓展業(yè)務(wù)范圍的需要，是企業(yè)靈活升級(jí)的得力助手

穩(wěn)定可靠，操作方便快捷

利用全譜豐富的譜線(xiàn)信息，M5000可運(yùn)用背景扣除、干擾扣除、漂移校正等高級(jí)算法，從而更優(yōu)地監(jiān)控儀器運(yùn)行狀態(tài)，提高了分析的準(zhǔn)確性和儀器的穩(wěn)定性

同時(shí)智能校正技術(shù)取代了傳統(tǒng)的描跡校正，儀器操作簡(jiǎn)單，方便易用，校正效果更優(yōu)

性能優(yōu)勢(shì)

智能可靠的全數(shù)字光源

可編程脈沖合成全數(shù)字光源，性能好，免維護(hù)

適用于激發(fā)各種合金材料，有利于提高分析精度

方便節(jié)能的樣品激發(fā)臺(tái)

開(kāi)放式樣品激發(fā)臺(tái)，適于分析不同幾何形狀的大/小樣品

氬氣氣路優(yōu)化設(shè)計(jì)，使激發(fā)效果更好

氬氣節(jié)約模式，有效降低氬氣用量

安裝與維護(hù)簡(jiǎn)單便捷

穩(wěn)定光學(xué)系統(tǒng)

帕型-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu)，多個(gè)高性能的CMOS探測(cè)器

可實(shí)時(shí)監(jiān)控的恒溫光室，使光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定

雙光室設(shè)計(jì)

雙光室（紫外+可見(jiàn)）設(shè)計(jì)，同時(shí)使長(zhǎng)短波元素分析性能令人滿(mǎn)意

獨(dú)立的紫外光學(xué)系統(tǒng)使儀器對(duì)碳、磷、硫、氮等短波元素的分析更準(zhǔn)確

優(yōu)化設(shè)計(jì)

智能曲線(xiàn)

智能曲線(xiàn)功能，可滿(mǎn)足對(duì)基體內(nèi)材料的分析需求

智能鏈接適當(dāng)?shù)那€(xiàn)模型，獲得更準(zhǔn)確的分析結(jié)果

實(shí)現(xiàn)未知樣品分析，無(wú)需糾結(jié)模型選擇，使操作更加簡(jiǎn)便

質(zhì)量判斷

根據(jù)用戶(hù)的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，可自由設(shè)定元素成分質(zhì)量控制的上下限

自動(dòng)判斷樣品成分是否超標(biāo)，結(jié)果一目了然

牌號(hào)識(shí)別

可對(duì)未知材質(zhì)分類(lèi)，幫助用戶(hù)快速鑒定樣品牌號(hào)

當(dāng)量分析

可自由編輯碳當(dāng)量、耐腐蝕當(dāng)量公式，掌控材料特性

自動(dòng)系統(tǒng)診斷

軟件界面實(shí)時(shí)呈現(xiàn)儀器運(yùn)行狀態(tài)

準(zhǔn)時(shí)提醒儀器維護(hù)與清理時(shí)間

產(chǎn)品選型