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　　表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測量儀，采用的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器的測量探頭可以任意旋轉，適合精密測量 不可移動樣品表面形貌，同時適合進行野外測試。

 

　　本產品是利用白光點光源，光線經過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。位于白光光源的對稱位置上的超靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經被測點漫反射后的光。根據準共聚焦原理，探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的光，從而得到這個點距離透鏡的垂直距離。再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標，即X-Z坐標后以S路徑獲得物體每個點的三維X-Y-Z坐標。后將采集的三維坐標數據交給專業(yè)的三維處理軟件進行各種表面參數的分析。

　　應用領域：

　　用于太陽能電池測量；

　　用于半導體晶圓測量；

　　用于鍍膜玻璃的平整度（Flatness）測量；

　　用于機械部件的計量；

　　用于塑料,金屬和其他復合型材料工件的測量。

 

　　產品特性：

　　1、采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率；

　　2、測量具有非破壞性，測量速度快，度高；

　　3、測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料；

　　4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面；

　　5、不受樣品反射率的影響；

　　6、不受環(huán)境光的影響；

　　7、測量簡單，樣品無需特殊處理。