閃光法導熱分析儀遵照 ASTM E1461 標準，Nanoflash™ 使用氙燈作為加熱源加熱樣品表面，使用紅外探測器讀取樣品溫升，減少了潛在的表面熱阻，可以精確測量薄的樣品如基質(zhì)上的涂層、薄膜材料或三明治樣品。Nanoflash™ 操作便捷，測量速度快，性價比高，其所測量的熱擴散系數(shù)范圍十分寬廣，覆蓋從聚合物到金剛石各類材料領域。  Nanoflash™ 的操作實現(xiàn)高度自動化：由軟件控制測試溫度與閃光燈啟閉，并進行數(shù)據(jù)分析。自動進樣系統(tǒng)允許儀器在一次測試過程中測量多個樣品。在爐體到達設定溫度后，每一數(shù)據(jù)點的采集通常短于五分鐘。儀器可以為每一樣品單獨設置閃光能量等級、脈沖寬度與溫度。 儀器特點： 溫度范圍：RT ～ 200℃。  可測熱擴散系數(shù)、比熱與導熱系數(shù)。 

閃光法導熱分析儀 自動進樣系統(tǒng)。  多種激光脈沖寬度。  基于 Windows 平臺的功能強大的分析軟件。     測量原理：  作為加熱源的氙燈發(fā)射一束脈沖，打在樣品的下表面，由紅外探測器測量樣品上表面的相應溫升，并由軟件計算出樣品的熱擴散系數(shù)。 儀器可以同步測量熱擴散系數(shù)（α）與比熱（Cp）。比熱的測量是通過比較樣品的實際溫升與已知比熱的參比樣的溫升求得。若已知樣品的密度（ρ），則可計算出樣品的導熱系數(shù)（λ）。