FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?/p>