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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO技術(shù)參數(shù)
SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：
量 程：200um
行 程：5mm
取樣長度：0.8mm +/-15%
參 數(shù)：Ra：0.01um-40um
Rz：0.1um-199um Rp、Rt、Rv
顯 示Ra:0.01um
精 度：Rz:0.1um
檢測方式：壓電式
尺 寸：125*80*38mm
重 量：200g
訂貨號：112-3115
SURTRONIC DUO粗糙度儀 Ra Rz Rv Rp Rt
112-3115-10EX（防爆型） Ra Rz Rv Rp Rt
訂貨號：112-2916-03 Ra Rz
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