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液晶面板表面缺陷及檢測(cè)方法與檢測(cè)設(shè)備分析
閱讀：721 發(fā)布時(shí)間：2024-12-3液晶面板表面缺陷及檢測(cè)方法與檢測(cè)設(shè)備分析
在工業(yè)生產(chǎn)中，產(chǎn)品表面經(jīng)常遇到的不良品類型，大多是裂痕、劃痕、臟污等。而這些不良的缺陷檢測(cè)，隨著機(jī)器視覺行業(yè)的發(fā)展，技術(shù)的提高，已經(jīng)有很大的突破，不再是檢測(cè)的難點(diǎn)。
目前在3C電子領(lǐng)域，例如金屬面、玻璃面、手屏面板、液晶面板等行業(yè)表面檢測(cè)上應(yīng)用廣泛。但是，由于這些缺陷形狀不規(guī)則、深淺對(duì)比度低，而且往往會(huì)被產(chǎn)品表面的自然紋理或圖案所干擾。
表面劃痕通常可分為三大類：
第一類劃痕
從外觀上較易辨認(rèn)，灰度變化跟周圍區(qū)域?qū)Ρ纫脖容^明顯?？梢赃x擇較小的閾值精缺陷部分直接標(biāo)記。
第二類劃痕
部分灰度值變化并不明顯，整幅圖像灰度比較平均，劃痕面積也比較小，只有幾個(gè)像素點(diǎn)，灰度也只比周圍圖像稍低，很難分辨?？梢詫?duì)原圖像進(jìn)行均值濾波，得到較平滑的圖像，并與原圖像相減，當(dāng)其差的絕對(duì)值大于閾值時(shí)就將其置為目標(biāo)，并對(duì)所有的目標(biāo)進(jìn)行標(biāo)記，計(jì)算其面積，將面積過小的目標(biāo)去掉，剩下的就標(biāo)記為劃痕。
第三類劃痕
各部分灰度差異較大，形狀通常呈長條形，如果在一幅圖像上采取固定閾值分割，則標(biāo)記的缺陷部分會(huì)小于實(shí)際部分。
由于在工業(yè)檢測(cè)中圖像的多樣性，對(duì)于每一種圖像，都要經(jīng)過分析綜合考慮各種手段來進(jìn)行處理達(dá)到效果。
一般來說，劃痕部分的灰度值和周圍正常部分相比要暗，也就是劃痕部分灰度值偏??；而且，大多都是在光滑表面，所以整幅圖的灰度變化總體來說非常均勻，缺乏紋理特征。
因此，劃痕的檢測(cè)一般使用基于統(tǒng)計(jì)的灰度特征或者閾值分割的方法將劃痕部分標(biāo)出。
行業(yè)應(yīng)用：
玻璃，金屬，液晶板、手機(jī)屏幕、塑料等等表面檢測(cè)。
半導(dǎo)體材料品質(zhì)檢測(cè)設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹
是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中費(fèi)人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
概要
1. 可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
日本sena lamp高照度鹵素強(qiáng)光燈185FI手機(jī)屏幕檢查燈
高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成如下。
照度：照射距離 310mm、照射直徑徑 55mmφ時(shí)照度在 400，000 Lux以上）
光源：直流點(diǎn)燈 17V/185W 鹵素?zé)?/span>
照度調(diào)整：連續(xù)可調(diào)至照度的 20%
冷卻方式：強(qiáng)制空冷
使用溫度范囲：0～40℃
電源電圧：AC 95V～AC 260V，50/60Hz
功率：250W
尺寸：光源 136mm H×112mm W×150mm D
電源 229mm H×90mm W×250mm D
重量：光源2.3kg
電源3.6kg
立桿5.0kg