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變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀內(nèi)部設(shè)施如何
閱讀：716 發(fā)布時(shí)間：2023-12-3變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀內(nèi)部設(shè)施：
變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差Ψ，Ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線(xiàn)路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx)，如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線(xiàn)路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線(xiàn)路組成。測(cè)量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
儀器變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。控制面板:打印機(jī)、鍵盤(pán)、顯示和通訊中轉(zhuǎn)。變頻電源:采用SPWM開(kāi)關(guān)電路產(chǎn)生大功率正弦波穩(wěn)壓輸出。
升壓變壓器:將變頻電源輸出升壓到測(cè)量電壓，最大無(wú)功輸出2KVA/1分鐘。
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)電容器:內(nèi)Cn，測(cè)量基準(zhǔn)。
Cn電流檢測(cè):用于檢測(cè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容器電流，10μA~1A。輸入電阻<2Ω。
Cx正接線(xiàn)電流檢測(cè):只用于正接線(xiàn)測(cè)量，10μA~1A。輸入電阻<2Ω。Cx反接線(xiàn)電流檢測(cè):只用于反接線(xiàn)測(cè)量，10μA~1A。輸入電阻<2Ω。
反接線(xiàn)數(shù)字隔離通訊:采用精密MPPM數(shù)字調(diào)制解調(diào)器，將反接線(xiàn)電流信號(hào)送到低壓側(cè)。隔離電壓20KV。