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無(wú)線(xiàn)絕緣子零值測(cè)試儀測(cè)量方法
閱讀：1373 發(fā)布時(shí)間：2022-4-4絕緣子在運(yùn)輸和施工過(guò)程中可能會(huì)因碰撞而損壞。運(yùn)行過(guò)程中，可能因雷擊事故而折斷或損壞；由于機(jī)械負(fù)載和高電壓的長(zhǎng)期共同作用，會(huì)引起劣化。兩者都會(huì)導(dǎo)致其擊穿電壓不斷下降。當(dāng)它下降到小于爬行干閃電壓時(shí)，就稱(chēng)為低值絕緣子。低值的極限，即內(nèi)部擊穿電壓為零時(shí)，稱(chēng)為零值絕緣體。當(dāng)絕緣子串中有低值或零值絕緣子時(shí)，在骯臟的環(huán)境中，在過(guò)電壓甚至工作電壓的作用下，容易發(fā)生閃絡(luò)事故。
無(wú)線(xiàn)絕緣子測(cè)試儀的檢測(cè)分為在線(xiàn)檢測(cè)：觀(guān)察法、紫外成像法、超聲波檢測(cè)法、以非電量檢測(cè)為代表的紅外測(cè)溫，以及以絕緣電阻、電場(chǎng)測(cè)量、脈沖電流法和漏電流法為代表的典型的電量檢測(cè) 兩種。
非電量測(cè)量
1、無(wú)線(xiàn)絕緣子零值測(cè)試儀觀(guān)察方法：用雙筒望遠(yuǎn)鏡在塔下觀(guān)察，尋找常見(jiàn)的表面缺陷
2、紫外成像法：電子紫外光學(xué)探傷儀可帶電檢測(cè)復(fù)合絕緣子表面局部放電形成的碳化通道和腐蝕損傷。其原理是：在局部放電過(guò)程中，帶電體在絕緣體表面導(dǎo)電、碳化時(shí)會(huì)發(fā)出紫外線(xiàn)，通過(guò)時(shí)會(huì)加劇局部放電。
3、紅外成像法：該方法用于電線(xiàn)、接頭、套管的發(fā)熱檢測(cè)，以及合成絕緣子的局部異常發(fā)熱檢測(cè)。電場(chǎng)引起的絕緣材料損壞大部分與溫度有關(guān)。
4、無(wú)線(xiàn)絕緣子零值測(cè)試儀超聲波檢測(cè)法：超聲波檢測(cè)是基于超聲波從一種介質(zhì)傳播到另一種介質(zhì)的過(guò)程中，在兩種介質(zhì)的界面處發(fā)生反射、折射和模式轉(zhuǎn)換（縱橫波轉(zhuǎn)換）的原理。