鍍鋁膜測(cè)厚儀由于其測(cè)試原理、技術(shù)難度、精度量程范圍、使用場(chǎng)合等特殊原因，國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)儀器廠家開發(fā)此產(chǎn)品的并不多，傳統(tǒng)的機(jī)械測(cè)試法精度zui的也只能到微米級(jí)。煙包、食品、醫(yī)藥、車燈等行業(yè)涉及的鍍鋁膜很薄，以埃為單位?？刂棋冧X膜的厚度就需要高精度的鍍鋁膜測(cè)厚儀，1 微米(μm) = 1 000 納米(nm) = 10000埃，也就是說1納米等于10埃，可見鍍鋁膜測(cè)厚儀的精度（食品行業(yè)鍍鋁層一般為200-500埃之間）。

鍍鋁膜測(cè)厚儀*代為數(shù)碼管顯示，第二代為液晶顯示，此次推出的HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀是技術(shù)的觸摸屏顯示，為第三代產(chǎn)品，屏幕觸控操作，菜單顯示。除此之外，與之前的相比有以下六點(diǎn)技術(shù)升級(jí)。

一、HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀采用一種新材料探頭，該探頭對(duì)金屬材料尤其是鋁膜層非常敏感，測(cè)試精度由原來的10埃提高到1埃。

二、測(cè)試區(qū)域內(nèi)除探頭外全部更換為非金屬材料，渦流磁場(chǎng)區(qū)域沒有其他金屬，防止干擾。

三、測(cè)試墊板選用特殊防靜電材料，避免放置鋁膜或移動(dòng)鋁膜產(chǎn)生的微小靜電。

四、機(jī)殼摒棄原來的45鋼外加烤漆工藝，使用一次成型的型材，美觀耐磨，輕便。

五、校準(zhǔn)儀器的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)原來使用光盤亮面，現(xiàn)在采用穩(wěn)定性更高的標(biāo)準(zhǔn)鋁箔作為標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

六、增加方塊電阻顯示，埃和方塊電阻可自由切換顯示，方便不同的標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量。

以上技術(shù)升級(jí)均是經(jīng)過數(shù)次的篩選材料，軟件測(cè)試，試驗(yàn)zui終確定的技術(shù)方案，保證了鍍鋁膜測(cè)厚儀的超高精度以及穩(wěn)定性、重復(fù)性。

                                        HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀

該HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測(cè)，包括食品煙草軟包裝鋁膜、渦流鍍層、蒸發(fā)鋁膜、微薄金屬膜、硅片蒸鋁層、 聲表面波鋁膜、 半導(dǎo)體鋁膜、 車燈鋁膜、塑料薄膜鋁膜等，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957。鋁膜測(cè)厚儀利用渦流原理制造，即被測(cè)蒸鋁層靠近高頻激磁磁場(chǎng)時(shí)，感應(yīng)產(chǎn)生渦電流，因而產(chǎn)生渦流磁場(chǎng)，此渦流磁場(chǎng)反作用于原來激磁磁場(chǎng)，阻抗發(fā)生變化，然后通過檢測(cè)電路并進(jìn)行放大，輸出與厚度相對(duì)應(yīng)模擬電壓。zui終顯示厚度。

  該升級(jí)的HP-CHY-L鍍鋁膜測(cè)厚儀將會(huì)憑借其的技術(shù)廣泛應(yīng)用到超薄鋁層的測(cè)試領(lǐng)域。