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菲希爾測厚儀X射線XDL210產(chǎn)品信息
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及 材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，一起還能檢測 大規(guī)模出產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 210 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料查驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。 典型的應(yīng)用領(lǐng)域有： • 丈量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件 • 丈量超薄鍍層，例如：裝飾鉻 • 丈量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層 • 丈量印刷線路板 • 分析電鍍?nèi)芤?XDL210 有著杰出的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。 比例接收器能完成高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度丈量。 因?yàn)椴捎昧?FISCHER 基本參數(shù)法，因而無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣 品，儀器都能在沒有規(guī)范片的情況下進(jìn)行丈量和分析。
