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XOS 軟件旨在對(duì)樣品的基體效應(yīng)做出準(zhǔn)確響應(yīng)。然而，和任何分析技術(shù)一樣，總有一些樣品對(duì) XRF 來(lái)說(shuō)具有特別的挑戰(zhàn)性，一般 是由于材料的密度和/或元素的組成。本文件討論了光譜干擾的一般成因，對(duì)涉及到檢測(cè)和定量測(cè)量各種均勻樣品基體中鉛（Pb） 含量時(shí)所碰到的常見(jiàn)問(wèn)題做出了回答。
是什么原因?qū)е裸U的測(cè)量濃度偏高和檢測(cè)限（LOD）的增加？
在塑料基底中是否有內(nèi)在的鉛干擾因素？
在金屬基底中是否有內(nèi)在的鉛干擾因素？
