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BeNano90Zeta二手納米粒度及Zeta電位分析儀
點(diǎn)擊次數(shù)：218 發(fā)布時(shí)間：2025-3-15
BeNano90Zeta二手納米粒度及Zeta電位分析儀
電子天平十萬(wàn)分之一
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù)，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。
動(dòng)態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●計(jì)算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試
趨勢(shì)測(cè)試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試
靜態(tài)光散射
● 絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式
BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●BAT-1自動(dòng)滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試，具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。
BeNano90Zeta二手納米粒度及Zeta電位分析儀