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全視圖 – 聚焦 – 快速
DeepFocus 1數碼顯微鏡，結合蔡司Visioner1和MALS™技術，提供比傳統(tǒng)顯微鏡系統(tǒng)更大的景深(DoF)，在單一視圖中提供實時清晰的影像。
無論是在質量實驗室負責研發(fā)還是在生產線上，越快速 地識別和報告問題或理解樣本故障，就能越及時地交付高質量的產品。 DeepFocus 1的3D立體可視化技術令用戶可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕 獲的數據，包括Z軸高度細節(jié)。這些查看模式可確保令失效分析和質量控制更加高效，與傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)相比，可更快速地提供準確結果。
全焦點 傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)受景深深淺的限制，特別是在高倍放大時。只能聚焦樣品的一小部分區(qū)域，則有可能導致特征缺失和觀測不完整。DeepFocus 1數碼顯微鏡可以在單一視圖中擴展多達100 倍的樣本景深。高度達69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示，無需 重新定位組件，避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。
應用 模塊化的結構、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配置，適合多種廣泛應用，適用于大多數工業(yè)環(huán)境中多種多樣的目標物觀測任務。它占地面積小，非常適合車間質量控制。能夠立即記錄 檢查任務，成為需要嚴格監(jiān)管行業(yè)的理想選擇，如航空航天和醫(yī)療設備制造。
專為提高生產率設計
DeepFocus 1不僅簡化了成像和文檔記錄任務，而且實時擴展景深視圖EDoF使用戶能夠更快地檢查組件，提供更高的工作量。
無論是在質量實驗室負責研發(fā)還是在生產線上，越快速地識別和報告問題或理解樣本故障，就能越及時地交付高質量的產品。 DeepFocus 1的3D立體可視化技術令用戶可從任何角 度觀察物體。高度圖和地形圖以容易理解的視圖顯示捕獲的數據，包括Z軸高度細節(jié)。這些查看模式可確保令失效分析和質量控制更加高效，與傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)相比，可更快速地提供準確結果。
全焦點 傳統(tǒng)觀測系統(tǒng)受景深深淺的限制，特別是在高倍放大時。只能聚焦樣品的一小部分區(qū)域，則有可能導致特征 缺失和觀測不完整。DeepFocus 1數碼顯微鏡可以在單一視圖中擴展多達100 倍的樣本景深。高度達69mm組件的銳聚焦圖像在單一視圖中顯示，無需重新定位組件，避免任何額外的重聚焦或Z軸堆疊處理。
應用 模塊化的結構、軟件和配件使得DeepFocus 1可以靈活配置，適合多種廣泛應用，適用于大多數工業(yè)環(huán)境中多種多樣的目標物觀測任務。它占地面積小，非常適合車間質量控制。能夠立即記錄檢查任務，成為需要嚴格監(jiān)管行業(yè)的理想選擇，如航空 航天和醫(yī)療設備制造。
專為提高生產率設計
DeepFocus 1不僅簡化了成像和文檔記錄任務，而且實時擴展景深視圖EDoF使用戶 能夠更快地檢查組件，提供更高的工作量。
與所有Vision Engineering產品一樣，DeepFocus 1也是 為提高操作者效率而設計。DeepFocus 1即使在操作目標物或樣品含有移動部件時也能保持清晰的聚焦圖像。通過消除觀測過程中重新聚焦的需要，或耗時的Z軸堆疊 圖像處理，顯著提高生產率。
三種查看細節(jié)的方式 除了擴展景深視圖(EDoF)，還可在“高度 圖"模式或“地形圖"模式查看目標物。通過不同的方 式顯示信息，可以突出細節(jié)特征并更清楚地理解。
簡單快速報告 行業(yè)法規(guī)和質量控制過程意味著詳細的檢驗報告是必要 和重要的要求?？煽焖俸唵蔚?從實時視圖中獲取2D圖 像。 這些圖像像任何標準寬場顯微鏡圖像一樣可供使用 和分析。 測量疊加圖可以應用于實時圖像，并可立即給 出公差差異指示。定制化的工作界面，即使在不同部件和檢查之間切換， 也可獲得快捷的、可重復的報告，簡化流程并減少操作失誤。
測量 內置的測量功能，包括“出入"公差提示，輕松獲得詳 細報告。 在實時視圖中測量，并從捕獲的圖像中進行增強測量，可加快和簡化細節(jié)分析任務。 對輪廓特征的簡單檢查中增加了重要的Z軸作為可用信息。
測量工具 實時測量圓、線、多邊形和矩形詳細尺寸，面積、距離 和角度。靜態(tài)測量增加了Z軸角度、距離和半徑，以及注釋、多距離測量和曲線。
優(yōu)化照明 不同特征的高清晰度成像往往需要特定的照明模式。DeepFocus 1有可調節(jié)的環(huán)形光和同軸光，為每個目標物提供正確的照明。自動眩光控制技術可為反光的目標物提供實時無眩光圖像。內置同軸光為反光表面及側面帶來理想照明，并可帶來細孔底部的清晰無陰影圖像。
軟件選項 通過一系列額外的數碼顯微鏡軟件來擴展更多應用范圍、提高效率和擴展功能。添加諸多功能如的圖像分析、可審批可溯源的工作流程、自動測量和評估等。
技術參數
| 光學 | |||
| 視場（最大） | 2.8 x 2.1mm | 5.4 x 4.0mm | 20.1 x 15.1mm |
| 工作距離 | 17mm | 47mm | 167mm |
| 分辨率（最大） | 125 Lp/mm | 65 Lp/mm | 17 Lp/mm |
| 擴展景深（最大） | 1.8mm | 6.4mm | 69.0mm |
| 照明 |
| 內置LED同軸光源 |
| LED環(huán)形燈，3環(huán)8段照明（支持眩光消除） |
| 可選右側 LED光源，1環(huán)，優(yōu)化2.5倍放大（支持眩光消除） |
| 內置3百萬像素彩色攝像頭 |
| 最大圖像尺寸： 2048 x 1536 像素（實時及快照模式） |
| 最大圖像尺寸：: 800 x 600 像素（實時及快照模式） |
支架選項
臺式支架 穩(wěn)定性高，占地面積小，結構緊湊。 適用于小型元件的高倍放大。Z軸定位 可調，便于設置。
多維支架 靈活性和適應性高。 旋轉、傾斜、提 升和重新定位，快速便捷。適合大面 積長深度及的目標物，輕松調整工作 距離。 可直接安裝到工作臺上。
EVOTIS 配置 的檢測工作站，適用于大面積PCB 元件和托盤組件。 獨立X/Y軸鎖定。
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