9月17日，全國計量器具管理標準化技術(shù)委員會發(fā)布了GB/T《計量器具環(huán)境試驗的通用要求》征求意見稿，并面向社會各界征求意見。
　　計量器具是指能用于直接或間接測出被測對象量值的裝置、儀器儀表、量具和用于統(tǒng)一量值的標準物質(zhì)。計量器具廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)、科研領(lǐng)域和人們生活等方方面面，在整個計量立法中處于相當(dāng)重要的地位。因為全國量值的統(tǒng)一，首先反映在計量器具的準確一致上，計量器具不僅是監(jiān)督管理的主要對象，而且是計量部門提供計量保證的技術(shù)基礎(chǔ)。
　　本標準目的旨在指導(dǎo)企業(yè)按照試驗規(guī)則標準，生產(chǎn)制造合格的計量器具;指導(dǎo)技術(shù)機構(gòu)規(guī)范計量器具型式評價的環(huán)境試驗，做到統(tǒng)一評價依據(jù)、統(tǒng)一檢查和試驗項目。計量器具型式評價是對計量器具進行法制管理的一個重要方面，型式評價直接決定了哪些計量器具可以進入法制計量領(lǐng)域。而型式評價試驗必然涉及到環(huán)境試驗。所以對計量器具環(huán)境試驗的通用要求制定國標很有必要。
　　本標準是在國際法制計量組織OIML的國際文件D11:2013《計量器具環(huán)境試驗的通用要求》為藍本的基礎(chǔ)上起草，涉及到所有計量器具環(huán)境試驗的通用要求，是一個通用型的國標。
　　本標準引用的文件有：
GB/T2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫(GB/T2423.1一2008,IEC60068一2一1:2007,IDT);
GB/T2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫(GB/T2423.2一2008,IEC60068一2一2:2007,IDT);
GB/T2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗(GB/T2423.3一2016,1EC60068一2一78:2012,IDT);
GB/T2423.4 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱(12h+12h循環(huán))(GB/T2423.4一2008,IEC60068一2一30:2005,IDT);
GB/T2423.7 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試馳C和導(dǎo)則：傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)(GB/T2423.7一1995,IEc60068一2一31:1982,IDT);
GB/T2423.10 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc：振動(正弦)(GB/T2423.10一2008,IEC60068一2一6:1995,IDT);
GB/T2423.11 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fd：寬頻帶隨機振動一一一般要求(GB/T2423.11一1997,IEC60068一2一34:1973,IDT);
GB/T2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧(GB/T2423.17一2008,IEC60068一2一11:1981,IDT)等。