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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
高低溫冷熱臺(tái)可定制介電溫譜、四探針電阻率、絕緣電阻等多種測(cè)試功能！
高低溫冷熱臺(tái)可定制介電溫譜、四探針電阻率、絕緣電阻等多種測(cè)試功能！
溫控探針臺(tái)是一款溫度范圍-190℃-600℃的。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn)，又可以防止樣品發(fā)生氧化。通過(guò)杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針準(zhǔn)確，而且點(diǎn)針力度大。
高低溫冷熱臺(tái)可單獨(dú)使用，也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在-190°C ~ 600°C范圍內(nèi)控溫，同時(shí)允許探針電測(cè)試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔，可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Ｗo(hù)氣體，來(lái)防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜，或高溫下氧化。
功能特點(diǎn)：
可編程精密控溫?？瑟?dú)立控制，也可從上位機(jī)軟件控制
探針需開(kāi)蓋移動(dòng)，樣品臺(tái)面電接地
探針，分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口
杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度大，電接觸性好
彎針探針，點(diǎn)針準(zhǔn)
默認(rèn)氣密腔室，通問(wèn)2個(gè)快速自鎖接頭，可充保護(hù)氣體
上蓋帶有樣品觀察窗
臺(tái)體內(nèi)置干燥氣體管道，用于負(fù)溫時(shí)對(duì)視窗的除霜
視窗可拆卸與換，可用不同材質(zhì)窗片實(shí)現(xiàn)不同波段光觀察
軟件可拓展性強(qiáng)，可提供LabView等語(yǔ)言的SDK
可定制多測(cè)試功能：
介電溫譜測(cè)試
四探針電阻率測(cè)試
絕緣電阻測(cè)試
設(shè)備優(yōu)勢(shì)：
1.高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
2.溫度控制
近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以準(zhǔn)確控制樣品的溫度。
3.不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體靜態(tài)或流動(dòng))，操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線(xiàn)可傳送到加熱/冷卻室。