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上海圓馨能源科技有限公司
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解析ATOS電磁閥DKE-1751/2現(xiàn)場故障分析與解決方法
2022-10-21 閱讀(212)
| 提 供 商 | 上海圓馨能源科技有限公司 | 資料大小 | 320.3KB |
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| 資料圖片 | 下載次數(shù) | 10次 | |
| 資料類型 | JPG 圖片 | 瀏覽次數(shù) | 212次 |
解析ATOS電磁閥現(xiàn)場故障分析與解決方法?
ATOS電磁閥經(jīng)過仔細(xì)檢查和結(jié)構(gòu)原理分析，發(fā)現(xiàn)一類是滾動(dòng)膜片破損;另一類是薄膜波紋膜片(以下簡稱膜片)破裂。從執(zhí)行
機(jī)構(gòu)分析得知，當(dāng)膜片破損后，無論正反作用的執(zhí)行機(jī)構(gòu)，都不能使調(diào)節(jié)閥正常工作。當(dāng)滾動(dòng)膜片破損后，對于反作用的執(zhí)行機(jī)
構(gòu)失去密封作用，膜頭內(nèi)的氣體沿推桿漏走，也使調(diào)節(jié)閥不能正常工作。
由于ATOS電磁閥具有無摩擦，可使ATOS電磁閥變差顯著減小:*不漏氣，不需要潤滑;對零件加工要求低;相對運(yùn)動(dòng)的零
件之間，即使有少量的偏心和偏角，對執(zhí)行機(jī)構(gòu)性能無多大影響等優(yōu)點(diǎn)，因此，現(xiàn)在生產(chǎn)的大多是采用漆動(dòng)膜片結(jié)構(gòu)的執(zhí)行機(jī)
構(gòu)，而漆動(dòng)膜片的破捐又成了主要的ATOS電磁閥故障，從膜片破捐外的情況分析，破捐外均為道片與硬盤接觸面，即受力面
但是，有的硬盤都比較光滑，無毛刺，因此造成破損的主要原因是橡膠老化。
ATOS電磁閥主要解決措施
(1)ATOS電磁閥提高膜片、滾動(dòng)膜片質(zhì)量，延長使用壽命。
(2)使用ATOS電磁閥一般以二年為一個(gè)周期，定期更換膜片、滾動(dòng)膜片，減少故障發(fā)生率。
(3)除單座閥Dqz25mm外，在滿足工藝前提下，改變閥芯、閥座的位置，盡量采用調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)作用形式，可避免類故障的產(chǎn)
生。
(4)改善工藝環(huán)境，減少閥的動(dòng)作頻率，從而延緩橡膠的疲勞。
(5)減少行程，提高膜片壽命。
對于同樣結(jié)構(gòu)的ATOS電磁閥的方向不同。流量系數(shù)值也有變化。這種變化一般是由于壓力恢復(fù)不同而造成的。如果流體流過針
型閥使閥辨趨于打開，那么閥制和閥體形成的環(huán)形擴(kuò)散通道能使壓力有恢復(fù)。當(dāng)流體流過閥門使閥辨趨干關(guān)閉時(shí)，閥座對壓力恢
復(fù)的影響很大。
對干高壓角閥，當(dāng)流體的流動(dòng)使閥門趨干關(guān)閉時(shí)流量系數(shù)較高，因?yàn)榇藭r(shí)閥座的擴(kuò)散錐體使流體的壓力恢復(fù)。
ATOS電磁閥閥門內(nèi)部的幾，何形狀不同，流量系數(shù)的曲線也不同。
針型閥內(nèi)部壓力恢復(fù)的機(jī)理，與文丘里管的收縮和擴(kuò)散造成的壓力損失機(jī)理一樣。
