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干膜測(cè)厚儀日常故障因素分析
干膜測(cè)厚儀日常故障因素分析
一、干膜測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果誤差大
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使測(cè)頭與被測(cè)件表面保持垂直。并且測(cè)頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)測(cè)頭，因?yàn)檫@樣不僅對(duì)測(cè)頭會(huì)造成磨損，也不會(huì)得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。
另外，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過(guò)小、工件曲率過(guò)小、測(cè)量基座表面有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)干擾等因素，都有可能引起干膜測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果的異常。
二、干膜測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定
導(dǎo)致干膜測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因，主要是來(lái)自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為磁性材料，如果是磁性材料我們就要選擇磁性干膜測(cè)厚儀，如果工件為非磁性，我們就得選擇渦流干膜測(cè)厚儀。
再者，被測(cè)件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不穩(wěn)定的重要因素，干膜測(cè)厚儀的測(cè)頭對(duì)那些妨礙與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)極其敏感。必須保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
因此，排除這種故障的要點(diǎn)就是：測(cè)量前清除被測(cè)件接觸面的灰塵、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有就是在進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)零時(shí)，所使用的基體表面必須是清潔、光滑的。
如感覺測(cè)量結(jié)果偏差比較大時(shí)，請(qǐng)先用干膜測(cè)厚儀配備的標(biāo)準(zhǔn)片做一輪測(cè)試，如偏離允許誤差較遠(yuǎn)則有可能是儀器本身出了問(wèn)題，需返廠檢修。在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體。基體最小平面為7mm，最小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
三、干膜測(cè)厚儀屏幕不顯示數(shù)據(jù)
原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量還是不顯示數(shù)值，可以考慮是否有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開或接觸不良現(xiàn)象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等因素影響。
四、干膜測(cè)厚儀自身發(fā)生故障
長(zhǎng)期處于工作狀態(tài)的干膜測(cè)厚儀，極有可能發(fā)生震動(dòng)、跌落、等意外，或所處的工作環(huán)境有磁場(chǎng)干擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受干擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地點(diǎn)使用，導(dǎo)致儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠等現(xiàn)象，所以建議盡量保證專人使用和保管儀器，發(fā)生故障及時(shí)返廠維修，不得擅自拆機(jī)檢測(cè)。
五、人為因素
干膜測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。使用者在測(cè)量過(guò)程中，如果對(duì)儀器不熟悉就可能使測(cè)頭偏離被測(cè)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。使用者初次使用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說(shuō)明書，掌握好測(cè)量方法。