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QNix1500涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
零位穩(wěn)定：
所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。
一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，
確保準(zhǔn)確測(cè)量
QNix1500涂鍍層測(cè)厚儀無需校準(zhǔn)：
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
 

QNix1500涂鍍層測(cè)厚儀

磁性/非磁性金屬基體:用于1500
測(cè)量范圍: 0-5000um
測(cè)量精度: 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5，1000－2000μm：≤±2， 2000－5000μm≤±3
zui小測(cè)量面積: 10x10mm
zui小曲率: 凸半徑 5mm
凹半徑 25mm
zui小基材厚度:鐵0.2mm 非鐵0.05mm
溫度范圍: 0-60度
顯示: LCD
供電形式: 9V電池
體積: 166X64X34mm
重量 約130克