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當(dāng)前位置：> 供求商機> HY（IC）-雙邊同時扭的彎扭試驗機
貨物所在地：上海上海市
產(chǎn)地：上海市浦東新區(qū)南蘆公路與馬五公
更新時間：2024-10-10 16:08:26
有效期：2024年10月10日 -- 2026年2月7日
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HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機技 術(shù) 參 數(shù):
本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1，國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊大位移量為20mm（+0.00mm,-1 mm）
長邊小位移量為2mm±0.50mm，
短邊大位移量為10mm（+0.00mm,-1 mm）
長邊小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
雙邊同時扭的彎扭試驗機產(chǎn)品用途：
用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
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